Innovative LongRun2-Technologie von Transmeta demonstriert Software-gesteuertes Verlustleistungsmanagement

Transmeta präsentiert neue Technik zur Kontrolle der Verlustleistung von Transistoren
(PresseBox) (Santa Clara, Kalifornien, ) Transmeta, US-amerikanischer Notebook- und Embedded-Prozessor-Hersteller, stellte auf dem Microprocessor Forum (MPF, 13. - 16. Oktober 2003, San Jose, USA) eine neue Lösung für das Problem der Verlustleistung von Transistoren, das in der Halbleiterindustrie wachsende Bedeutung gewinnt, vor. Die neue Technologie mit Namen LongRun2 bietet ein Software-gesteuertes Management der Verlustleistung. Transmeta wird die LongRun2-Technologie in die neuen Efficeon-Prozessoren integrieren, die ebenfalls auf dem MPF in San Jose, Kalifornien, vorgestellt wurden.

Die Verlustleistung bei Transistoren wird mit der kontinuierlichen Verkleinerung der Dimensionen zum wachsenden Problem in der Halbleitertechnologie. Industrieexperten sehen in der Verlustleistung der Transistoren eine der wesentlichen Herausforderungen für das Mo ore’sche Gesetz der Technologie-Skalierung. Von der gegenwärtigen Verdichtung auf 90nm- und 65nm-Transistoren wird eine stufenweise Ausweitung des Leckstrom-Problems erwartet. Ohne Kontrolle könnte die Verlustleistung sogar die Gesamtleistung des Chips dominieren und damit den Energiespar- oder Standby-Betrieb unmöglich machen.

Die erste Generation der Leistungsmanagement-Technologie LongRun von Transmeta wurde im Januar 2000 eingeführt. Damit konnten industrieweit zum ersten Mal MHz-Taktung und Spannung zur Senkung des Energieverbrauchs dynamisch angepasst werden, und zwar hundertmal pro Sekunde. Die neue LongRun2-Lösung von Transmeta erweitert diese Technologie um eine Software-gesteuerte, dynamische Anpassung der Verlustleistung von Transistoren. Die Software-Steuerung ist eine wesentliche Bedingung, wenn es um die Regulierung der Verlustleistung aufgrund von Runtime-Zuständen wie Spannung und Temperatur geht, die in der Phase der Chip-Produktion nicht vorhersagbar sind.

Die neue LongRun2-Technologie von Transmeta kann den Leckstrom von Transistoren beim aktiven Chip mittels Software kontrollieren. Die Software bewältigt die Kontrolle der Verlustleistung als "interdisziplinäre" Lösung in Verbindung mit speziellen Schaltungen auf dem Efficeon-Prozessor sowie dem Standard-CMOS-Prozess. Bei der Vorführung des Efficeon auf dem Microprocessor Forum in San Jose demonstrierte Transmeta, wie der Prozessor die Verlustleistung hundertmal pro Sekunde während des Abspielens eines Video-Spiels, eines DVD-Films sowie während des Wechsels in den Ruhe-Modus regulierte. Im Standby-Modus konnte die Verlustleistung des Efficeon-Kerns mit der LongRun2-Technologie um das annähernd 70-fache gesenkt werden.

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