Verborgenes erkennen mit neuartiger Polarisations- und Spektralmesstechnik

(PresseBox) (Erlangen, ) Für unterschiedlichste Anwendungen in der optischen Senorik und der industriellen Bildverarbeitung entwickelt das Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS einen Einzel- und Flächensensor basierend auf Nano­strukturen in CMOS-Technologie.

Der neue Sensor für Polarisations- und Spektralmessungen hat entscheidende Vorteile: Er erfasst Polarisationszustände pixelweise und kann Bilder mit unterschiedlichen Polarisationen gleichzeitig und in Echtzeit aufnehmen. Bei der Spektralmessung kann er die Wellenlänge des einfallenden Lichts eindeutig bestimmen.

Zur Erzielung einer optischen Filtertechnik nutzt der Sensor nanostrukturierte Metall-Lagen in CMOS-Technologien. Auf diese Weise erhält der ansonsten übliche Photosensor zusätzliche Funktionen wie Farb- oder Polarisationsempfindlichkeit.

Ein weiterer Pluspunkt ist die Wirtschaftlichkeit des intelligenten Fraunhofer-Sensorchips. Er ist klein und kostengünstig in der Herstellung. Möglich ist das, weil das Fraunhofer IIS auf die üblichen Sonderherstellungsprozesse verzichtet und die Sensorsysteme auf Standard-Halbleiterprozesse aufbaut.

Der Sensor kann problemlos in verschiedenste Anwendungen eingebaut werden. So kann er z. B. in der Qualitätsüberwachung Materialspannungen oder fehler aufspüren, die unter einer Lackoberfläche verborgen sind. Bei der Kontrolle von Obst und Gemüse in Sortieranlagen erkennt er Druckstellen, bevor sie für das Auge sichtbar sind.

Das Bundesministerium für Bildung und Forschung fördert die Arbeiten im Bereich der Farb- und Polarisationssensorik im Projekt SUDEKOS. Partner des Fraunhofer IIS sind die Firmen Koenig & Bauer AG, Radebeul; Schmidt+Haensch GmbH, Berlin; Silicann Technologies GmbH, Rostock; X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt und die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg.

Kontakt

Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS
Am Wolfsmantel 33
D-91058 Erlangen
Dipl.-Ing. Klaus-Dieter Taschka
Hilmar Fütterer
Marc Briele
Fraunhofer Institute for Integrated Circuits IIS
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