Elmos: Neuer Meilenstein für die HALIOS®-IC-Familie

HALIOS®-IC setzt neue Maßstäbe im Hinblick auf Funktion und Präzision von Multifunktions-Wand-Scannern
Elmos_Zircon_x85 (PresseBox) (Dortmund, ) Der Einsatz eines HALIOS®-ICs in einem Multifunktions-Wand-Scanner markiert einen weiteren Meilenstein für diese Elmos-Chip-Familie. Erstmalig wird ein IC mit der HALIOS®-Technologie von Elmos nicht nur in einem optischen Sensorsystem verwendet, sondern auch in einer kapazitiven Anwendung. Der neue leistungsstarke Zircon® MultiScanner™ x85 OneStep™, der auf der einzigartigen Elmos-Technologie basiert, erkennt alle relevanten Materialien in Wänden, Böden und Decken. Dies ist ein Beleg für die Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Vielseitigkeit der HALIOS® -Technologie von Elmos.

Das Gerät enthält den Elmos-IC E909.05. Heutzutage wird die Technologie schon für viele optische Anwendungen eingesetzt, wie Regen-/Lichtsensoren, Mensch-Maschine-Schnittstellen im neuen VW Golf VII und in GM Cadillac Modellen oder auch in Schaltern für Leuchten.

Als erster seiner Art verwendet der Zircon MultiScanner x85 während des Kalibrierungsprozesses die patentierten aktiven und kapazitiven HALIOS®-Messtechniken von Elmos, um Fehler bei der Ortung zu minimieren, und wechselt zwischen den Betriebsmodi, um zusätzlich spannungsführende Stromleitungen zu identifizieren oder Holz und Metall zu finden. Der Benutzer muss nur auf einen Knopf drücken, um den Mittelpunkt eines Zielobjekts bis zu einer Tiefe von 50 mm genau zu orten und digital zu erkennen. Wird der x85 vor dem Bohren, Schneiden oder Befestigen verwendet, verhindert man daher u.U. Schäden an Warmwasser-Fußbodenheizsystemen und erspart sich somit kostspielige Schäden, teure Reparaturen und unnötige Zeit für Bauarbeiten.

John Stauss, President von Zircon, ist begeistert von den neuen Möglichkeiten. „Die Realisierung der Funktionen in nur einem Gerät ist beispiellos. Der x85 kann sogar Pex-Rohre genau orten und spannungsführende, unabgeschirmte Leitungen sowie Holz und Metall erkennen – und löst somit eine ganze Reihe von Problemen im gewerblichen, industriellen und privaten Bereich. Der x85 ist einer der größten technischen Fortschritte überhaupt“, sagt Stauss in der Pressemitteilung für den Zircon MultiScanner x85.

Der E909.05 basiert auf dem patentierten Messverfahren, das bisher bei hochwertigen optischen Sensoren angewandt wurde. Es ist weltweit das einzige Verfahren, das mit echter physikalischer Kompensation arbeitet. Bei optischen Anwendungen ermöglicht es die weitgehende Kompensation parasitärer physikalischer Effekte (wie Umgebungslicht) in der Fotodiode. Zusätzlich können diese Sensoren für extrem geringen Stromverbrauch und konkurrenzlose Temperaturstabilität ausgelegt werden. Die Anwendung von HALIOS® in anderen Sensorprinzipien (z.B. kapazitiv) ist der Schlüssel zu nie dagewesener Präzision in der Messung. Beim Zircon MultiScanner x85 werden diese hervorragenden Eigenschaften zum ersten Mal für nicht-optische Detektionsverfahren genutzt.

Der Zircon MultiScanner x85 wird in vielen US-amerikanischen Baumärkten erhältlich sein.

Kontakt

Elmos Semiconductor AG
Heinrich-Hertz-Str. 1
D-44227 Dortmund
Mathias Kukla
Pressereferent

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