National Semiconductor stellt den kosteneffektivsten Boundary-Scan-Puffer/Transceiver der Industrie vor

(PresseBox) (Fürstenfeldbruck, ) Die beiden neuen Chips SCAN16602 und SCAN16512 eignen sich ideal für den Einsatz in Tele- und Datenkommunikations-Systemen mit niedrigen Versorgungsspannungen und bieten JTAG-Testzugang für erhöhte Fehlerabdeckung beim Board- und System-Test

Die National Semiconductor Corporation (NYSE:NSM) stellt unter der Bezeichnung SCAN16602 und SCAN16512 zwei neue integrierte Schaltungen vor, die der einfachen und kosteneffektiven Realisierung von Test-Zugängen für Basisstationen, Switches, Multiplexer und andere Telekommunikationssysteme mit geringer Versorgungsspannung dienen.

Die beiden ICs sind die neuesten Mitglieder einer Familie hochleistungsfähiger Chips zum Prüfen von Boards und ganzen Systemen. Pufferbausteine in der Art des SCAN16602 und SCAN16512 kommen in zahlreichen neuen Telekommunikations-Designs zum Einsatz, speziell wenn Bauelemente an Busse angeschlossen oder untereinander verbunden werden müssen. In der Vergangenheit waren für den Designer vermutlich oft Kostengründe ausschlaggebend, sich nicht für SCAN/JTAG-konforme Puffer zu entscheiden, da diese im Vergleich zu Puffern, die nicht dem JTAG-Standard (Joint Test Action Group) entsprachen, um das Drei- bis Zehnfache teurer waren. Mit der Einführung der Bausteine SCAN16602 und SCAN16512 hat der Designingenieur nunmehr die Möglichkeit, sich ohne Mehrkosten für JTAG-gemäße Puffer zu entscheiden.

“Mit den Produkten SCAN16602 und SCAN16512 baut National seinen Vorsprung im Bereich der leistungsfähigen I/O-Bausteine und JTAG-fähigen ICs weiter aus”, sagte Mark Holdaway, Marketing Manager bei der Enhanced Solutions Product Group von National in Europa. “Unsere Kunden können mit diesen neuen Chips Systeme mit integrierten Testfunktionen bauen, die die Cost-of-Ownership drastisch reduzieren.”

Merkmale und Vorzüge

SCAN16602 und SCAN16512 sind schnelle, stromsparende 16-Bit-Transceiver mit einem Testzugang nach dem Industriestandard IEEE 1149.1. Die Dateneingänge sind in zwei 8-Bit-Bytes mit jeweils eigenen Output-Enable- und Direction-Control-Signalen gegliedert. Die Funktionen können als D-Latch oder Flipflop konfiguriert werden und im Transparent-, Latched- oder Clocked-Modus arbeiten. Da die neuen Bausteine die Funktionen vieler anderer Transceiverprodukte übernehmen können, lassen sich Kosten sparen und es erübrigt sich damit auch die Bevorratung einer großen Zahl unterschiedlicher Bauelemente-Typen.

SCAN16602 und SCAN16512 dienen dem Einfügen von Testpunkten in schnelle TTL/CMOS-Backplanes mit einer Betriebsspannung von 2,7 bis 3,6 V. Durch optionale Bus-Hold- oder Serienwiderstände kann auf zusätzliche Pull-up- oder Pull-down-Widerstände verzichtet werden; gleichzeitig wird das Systemrauschen minimiert. Durch die leistungsfähigen BGA-Gehäuse wird der Platzbedarf, der durch den Einsatz dieser Funktionen auf der Leiterplatte entsteht, gering gehalten. Der SCAN16602 ist ideal für Hersteller von Basisstationen, Switches und Multiplexern für Tele- und Datenkommunikationsanwendungen geeignet.

Preis und Verfügbarkeit

Die Bausteine SCAN16602 und SCAN16512 von National sind im BGA-Gehäuse mit 64 Bumps lieferbar und kosten 3,25 US-$ (ab 1.000 Stück). Weitere Informationen sind unter folgendem Link erhältlich: www.national.com/scan

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